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Zygo ZMI 4104 高精度测量设备

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详细介绍

1.Zygo公司的技术积淀与行业地位
Zygo Corporation作为全球精密测量领域的标杆企业,自1970年成立以来,始终以 “对精密的热爱、对质量的执着、与客户关系的诚信” 为核心价值观,推动光学计量与超精密制造的边界拓展。2014年并入AMETEK集团后,Zygo依托集团在电子仪器和机电设备的全球资源网络,进一步强化了其在半导体、航天、医疗等领域的综合服务能力。公司拥有超过750项专 利(部分资料显示专  利数达1000项),其产品线涵盖激光干涉仪、光学轮廓仪、纳米传感器等,技术标准覆盖从亚埃级超光滑表面到复杂工业场景的全维度测量需求。

2.ZMI 4104的技术架构与创新突破
ZMI 4104是Zygo ZMI™系列中的旗舰级位移测量解决方案,其设计融合了Zygo在激光干涉测量领域数十年的技术积累,核心特性包括:
亚纳米级分辨率:通过专 利的循环误差补偿技术(CEC),实现位置分辨率0.15 nm,速度下精度(σ)达0.2 nm,突破传统光学测量的精度极限。
模块化扩展能力:支持VME64x机箱架构,单板可管理4个测量轴,系统可扩展至64轴,满足多任务并行的高复杂度工业场景需求。
环境适应性:光功率低至0.07 µW,搭配水冷技术(如兼容的7714/7724激光器),确保在振动、温变等恶劣条件下的稳定性。
智能化集成:支持RS232、RS485等多种接口,结合MetroPro和Mx软件平台,实现数据实时监测与自动化控制的无缝衔接。

3.应用场景的深度拓展与行业赋能
ZMI 4104的应用已超越传统计量领域,向 “精密制造-过程控制-质量反馈” 的全链条渗透:
半导体制造:用于光刻机平台定位、晶圆表面形貌检测,精度达0.1 nm的实时反馈显著降低缺陷率。
光学系统集成:在星载成像系统、红外热成像设备中,通过多轴同步测量优化光学组件的装配精度。
科研与纳米技术:支持3D打印表面粗糙度、薄膜厚度等参数的快速捕获(每秒200万数据点),加速新材料研发进程。
自动化测试:与尼康半导体设备集成,实现生产线动态误差补偿,提升良品率与生产效率。

Zygo ZMI 4104不仅是一款高精度测量设备,更是驱动工业精密化进程的核心引擎。其技术革新与生态化服务模式,为半导体、光学制造、科研等领域提供了从微观到宏观的全面解决方案。未来,随着Zygo持续深耕超精密技术,ZMI系列有望成为智能制造时代的基础设施级产品。
Zygo ZMI 4104 高精度测量设备
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